ETSC - OCI-V (OFDR)
Caractérisation haute-précision de composants optiques
Les systèmes OCI sont des systèmes d’analyse vectorielle optique basée sur la technologie OFDR et permettent de caractériser efficacement et rapidement des composants optiques.
Il devient ainsi facile de déterminer les pertes d’insertions (insertion loss, IL), le group ou chromatic delay, la perte liée à la polarisation (polarization dependant loss, PDL), la dispersion de polarisation de mode (polarization mode dispersion, PMD) ou la matrice de Jones.
Ses fonctions de calculs et sa conception optique unique couplés à une interface utilisateur intuitive et efficace rende cet instrument indispensable lors de la caractérisation de composants ou dispositifs optiques.
Caractérisation de guide d’onde
Caractérisation de puce photonique
Caractérisation d’instrument fibré
Caractérisation d’instrument fibré ajustable (amplificateur, filtre …)
ETSC - OSI-S (OFDR) - Mesure haute-précision de contrainte et de température
L’OFDR d’ETSC, l’OSI-S permet la mesure de contrainte et de température avec une résolution spatiale de l’ordre du mm sur toute la longueur de la fibre. En effet, ce système est conçu pour utiliser différents types de fibres et être…
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