ETSC - OSI-S (OFDR)
Mesure haute-précision de contrainte et de température
L’OFDR d’ETSC, l’OSI-S permet la mesure de contrainte et de température avec une résolution spatiale de l’ordre du mm sur toute la longueur de la fibre. En effet, ce système est conçu pour utiliser différents types de fibres et être le plus versatile possible : fibre monomode ou weak FBG peuvent être utilisées comme capteurs. Sa précision en mesure est de l’ordre de ±1 µE en contrainte et ±0,1°C. Cela vous permet d’utiliser la fibre entière comme capteur et donc l’acquisition de plusieurs milliers de points de mesures pour une même fibre.
Les systèmes OSI-S sont prévus pour l’analyse sur des distances entre 50 m et 100 m. Vous pouvez réaliser davantage de mesures grâce au 8 canaux possibles sur ce système. L’OSI-S est insensible aux vibrations mécaniques parasites, existe en version portable et dispose d’un logiciel facile à prendre en main. Toutes ses caractéristiques font de lui un outil de précision indispensable pour la mesure de contrainte et température en laboratoire mais aussi en milieu industriel.
Contrôle de l’état d’une structure
Test de fatigue de matériaux composites
Analyse de de température sur batteries lithium
Mesure de contrainte et température pour l’industrie automobile
Reconstruction de forme spatiale basée sur la technologie OFDR — Note applicative
Quantifier et qualifier la déformation d’un textile avec des fibres optiques — Note applicative
Longueur de mesure : 50 m – 100 m
Précision en température : ± 1°C
Précision en contrainte : ± 1 µE
Echelle de mesure contrainte : ± 12000 µE
Echelle de mesure en température : -200°C à 1200 °C
Résolution spatiale : 1 mm – 10 mm
Calibration automatique (sans intervention utilisateur)
Senseur : fibres monomode ou weak FBG
Connectique : FC/APC
Communication : USB
2D Shape Sensing : visualisation en direct de la déformation (option)
Possibilité de déporter le système avec une fibre « lead » avec la fibre capteur
Garantie 2 ans
Livré avec logiciel et ordinateur portable préconfiguré
ETSC - OCI-V (OFDR) - Caractérisation haute-précision de composants optiques
Les systèmes OCI sont des systèmes d’analyse vectorielle optique basée sur la technologie OFDR et permettent de caractériser efficacement et rapidement des composants optiques. Il devient ainsi facile de déterminer les pertes d’insertions (insertion loss, IL), le group ou chromatic…
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ETSC - OSI-D (OFDR) - Mesure instantanée de contrainte et de température
Grâce à l’OFDR d’ETSC, vous pouvez réaliser des mesures instantanées de contrainte et de température avec précision. En effet, la résolution offerte par l’OSI-D est de l’ordre de ±1 µE et ±0,1°C avec une résolution spatiale ajustable entre 0,64 mm…
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